Oferujemy dostęp do pytań obejmujących bazę CEM oraz pytań LEK od roku 2008.
Oferujemy dostęp do archiwalnych pytań PES ze strony CEM oraz niepublikowanych pytań z najnowszych 5 lat dla wybranych specjalizacji.
86.
Czynnikami odpowiedzialnymi za wysoką częstość występowania wrodzonych wad rozwojowych u noworodka matki z cukrzycą są:
1) hiperglikemia w okresie koncepcji i organogenezy;
2) wysokie stężenie HbA1c, nadmiar wolnych rodników tlenowych;
3) kwasica metaboliczna;
4) stosowanie egzogennej insuliny i hipoglikemia;
5) nadmiar cynku, wzrost ilości mioinozytolu i aktywności somatomedyn.
Prawidłowa odpowiedź to: